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三维轮廓仪可以测量任何类型的纳米分辨率样品

更新时间:2021-11-24      点击次数:962
  三维轮廓仪可在同一测试平台上运行多项测试,并可根据不同的技术应用需求改变产品组合。可对样品的同一区域进行不同模式的实验检测,模式切换可全自动进行。多种技术的融合,可以使不同的技术在同一台测试仪上发挥各自的优势。这种集成技术不仅有利于数据的综合分析,还可以降低维护成本,提高效率。
  三维轮廓仪可以在同一个测试平台上运行多个测试,单击按钮可以更改成像模式。这种组合可以轻松对任何表面成像,如透明、平面、暗色、平面、曲面等。每种成像方式各有优势,各种技术相得益彰。这种集成技术不仅有利于数据的综合分析,还可以降低维护成本,提高效率。

 

三维轮廓仪
 

 

  1、一体化操作的测量分析软件,无需切换界面。配置参数是在测量前预先设置好的。软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,可快速实现批量测量功能。
  2、测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动对焦、自动​​亮度调节等自动功能。
  3、测量中提供熔接测量功能。
  4、在分析中,我们提供了调整位置、校正、过滤和提取四个模块的数据处理功能。调整位置包括图像整平、镜像等功能。校正包括空间滤波、修整、峰值去噪等功能;过滤包括去形、标准过滤、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和截面的功能。
  5、分析提供五种分析功能:粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析和功能分析。粗糙度分析包含符合国际标准的线粗糙度、表面粗糙度、平面度等全参数分析功能;几何轮廓分析包括台阶高度、距离、角度、曲率等特征的测量,以及直线度、圆度和形位公差的评价;结构分析包括孔体积、槽深等;频率分析包括纹理方向和频谱分析;函数分析包括SK参数和体积参数。
  6、分析中提供一键分析、多文件分析等辅助分析功能。分析模板已设置。结合测量中提供的自动测量和批量测量功能,可以实现小型精密设备的批量测量和直接获取分析数据的功能。
  在同一平台上使用多种光学技术,三维轮廓仪几乎可以测量任何类型的纳米分辨率样品。表面轮廓仪配备功能强大的分析软件,符合多种标准。双模3D表面轮廓仪可在同一测试平台上运行多项测试,并可根据不同的技术应用需求改变产品组合。可对样品的同一区域进行不同模式的实验检测,并可自动进行模式切换。多种技术的融合,可以使不同的技术在同一台测试仪上发挥各自的优势。这种集成技术不仅有利于数据的综合分析,还可以降低维护成本,提高效率。

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